В настоящее время для анализа микромира применяются многочисленные современные устройства, которые могут гарантировать точность измерений, а также правильное разложение материалов на молекулы, атомы. К ним также относятся атомно-силовые микроскопы, которые широко представлены в каталоге компании Арстек.
Принцип работы оборудования
Основным компонентом микроскопа служит сверхчувствительный зонд, который при соприкосновении с исследуемой поверхностью проводит ее сканирование, с формированием двухмерного изображения.
У наконечника зонда диаметр составляет несколько нанометров. Он контактирует с молекулами анализируемого материала, между ними наблюдается электростатическое напряжение. Зонд может притягиваться к материалу или отталкиваться от него, при этом любые изменения определяются лазером. Наконечник все время возвращается к нулевой точке.
Такой принцип работы позволяет получать реальные представления о фактуре и структуре объекта, определять его характеристики (даже при радиусе, длине и ширине в нанометрах).
Говоря про достоинства и параметры оптических приборов, нужно отметить их особенности:
- Сначала это был профилометр.
- Прибор работает с детектором, системой обратной связи, фотодиодом, лазером, иглой и кантилевером.
- Жесткий корпус для фиксации системы.
- Встроенные качественные фиксаторы.
- Получение понятного, четкого изображения.
- Разные конструкции позволят подобрать оптимальный вариант.
- Применяются разные манипуляторы.
- Регистрация отклонений зонда.
- Работа с пьезоэлектрическими интерферометрическими, оптическими, емкостными и туннельными системами отклонений зонда.
- Получение трехмерного изображения.
- Возможность функционирования в жидкости и воздухе.
Условия использования устройств
Кроме исследований, атомно-силовые микроскопы применяются в следующих отраслях:
- В электронике для модификации размещения деталей в микросхемах, их коррекции или модернизации с учетом поставленных задач.
- В физике для точного определения параметров, структур объектов.
- В материаловедении для анализа электростатических, магнитивных свойств образцов.
При этом нужно понимать, что в основу современного оборудования часто входят стандартные микросхемы. С одной стороны, снижение их параметров позволяет экономить на затратах энергии, а также повышает производительность оборудования. Для модернизации или ремонта микросхемы применение атомно-силового микроскопа позволит решать даже такие задачи.
Конструкция устройств схожа с рабочим столом, с подвижной подложкой на поверхности, с помощью которой осуществляется сканирование размеров образцов в трех плоскостях. Сверху находится держатель с зондом или иглой, расстояние от которых до образца определяется автоматически. У некоторых устройств есть разъемы для соединения окуляров или сканирующего туннельного оборудования.
Ручное управление предусматривает настройку сканера. Можно устанавливать шаблонные значения кратности, увеличения. Дистанционное управление с помощью планшета упрощает работу устройств, обеспечивая точные настройки при работе с определенными образцами.
Особенности конструкций гарантируют точные измерения, точные данные. Купить такое оборудование можно в нашей компании на выгодных условиях. С такими приборами в лабораториях или институтах доступно изучение образцов, получение наноизобретений.
