Атомно-силовые микроскопы и их особенности

Атомно-силовые микроскопы и их особенности

В настоящее время для анализа микромира применяются многочисленные современные устройства, которые могут гарантировать точность измерений, а также правильное разложение материалов на молекулы, атомы. К ним также относятся атомно-силовые микроскопы, которые широко представлены в каталоге компании Арстек.

Принцип работы оборудования

Основным компонентом микроскопа служит сверхчувствительный зонд, который при соприкосновении с исследуемой поверхностью проводит ее сканирование, с формированием двухмерного изображения.

У наконечника зонда диаметр составляет несколько нанометров. Он контактирует с молекулами анализируемого материала, между ними наблюдается электростатическое напряжение. Зонд может притягиваться к материалу или отталкиваться от него, при этом любые изменения определяются лазером. Наконечник все время возвращается к нулевой точке.

Такой принцип работы позволяет получать реальные представления о фактуре и структуре объекта, определять его характеристики (даже при радиусе, длине и ширине в нанометрах).

Говоря про достоинства и параметры оптических приборов, нужно отметить их особенности:

  • Сначала это был профилометр.
  • Прибор работает с детектором, системой обратной связи, фотодиодом, лазером, иглой и кантилевером.
  • Жесткий корпус для фиксации системы.
  • Встроенные качественные фиксаторы.
  • Получение понятного, четкого изображения.
  • Разные конструкции позволят подобрать оптимальный вариант.
  • Применяются разные манипуляторы.
  • Регистрация отклонений зонда.
  • Работа с пьезоэлектрическими интерферометрическими, оптическими, емкостными и туннельными системами отклонений зонда.
  • Получение трехмерного изображения.
  • Возможность функционирования в жидкости и воздухе.

Условия использования устройств

Кроме исследований, атомно-силовые микроскопы применяются в следующих отраслях:

  • В электронике для модификации размещения деталей в микросхемах, их коррекции или модернизации с учетом поставленных задач.
  • В физике для точного определения параметров, структур объектов.
  • В материаловедении для анализа электростатических, магнитивных свойств образцов.

При этом нужно понимать, что в основу современного оборудования часто входят стандартные микросхемы. С одной стороны, снижение их параметров позволяет экономить на затратах энергии, а также повышает производительность оборудования. Для модернизации или ремонта микросхемы применение атомно-силового микроскопа позволит решать даже такие задачи.

Конструкция устройств схожа с рабочим столом, с подвижной подложкой на поверхности, с помощью которой осуществляется сканирование размеров образцов в трех плоскостях. Сверху находится держатель с зондом или иглой, расстояние от которых до образца определяется автоматически. У некоторых устройств есть разъемы для соединения окуляров или сканирующего туннельного оборудования.

Ручное управление предусматривает настройку сканера. Можно устанавливать шаблонные значения кратности, увеличения. Дистанционное управление с помощью планшета упрощает работу устройств, обеспечивая точные настройки при работе с определенными образцами.

Особенности конструкций гарантируют точные измерения, точные данные. Купить такое оборудование можно в нашей компании на выгодных условиях. С такими приборами в лабораториях или институтах доступно изучение образцов, получение наноизобретений.

ПОДЕЛИТЬСЯ
Предыдущая статьяПреимущества косметики Barex
Следующая статьяКак выбрать товары для красоты и здоровья
Загрузка...